NI DAQmx 교육용 DAQWare EDU 2024 에디션

미래의 엔지니어 역량 강화: NI DAQmx 데이터 수집을 간소화하는 교육 도구

TLA는 NI DAQmx용 DAQWare 교육용 에디션 EDU 2024의 출시를 발표하게 되어 기쁘게 생각합니다! 이 교육용 소프트웨어 도구는 학생과 교사가 이론 지식을 실습에 쉽게 적용할 수 있도록 NI(National Instruments) DAQmx 드라이버를 기반으로 데이터 수집 프로세스를 간소화하도록 설계되었습니다. 데이터 수집 개념을 처음 접하는 학생이나 효과적인 교육 도구를 찾고 있는 교육자 모두에게 DAQWare EDU 2024는 직관적이고 사용하기 쉬운 솔루션을 제공합니다.

(핵심 가치/왜 선택해야 하는가 - 왜 NI DAQmx EDU를 위해 DAQWare를 선택해야 하는가?)

왜 DAQWare EDU 2024를 선택해야 하나요?

학생들이 데이터 수집의 핵심 개념을 빠르게 파악하는 것이 중요한 교육 환경에서 DAQWare EDU 2024는 다음과 같은 방법으로 학습 과정을 간소화합니다:

  • 복잡한 프로그래밍이 필요하지 않습니다: 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 통해 학생들은 복잡한 코드를 작성하지 않고도 데이터 수집 작업을 구성하고 수행할 수 있습니다.
  • 핵심 개념에 집중하세요: 기본 드라이버의 복잡성을 차단하면 학생들은 신호, 센서, 데이터 변환 및 분석의 핵심 원리를 이해하는 데 더 집중할 수 있습니다.
  • 빠른 빌드 실험: 사전 설정된 구성 옵션과 깔끔한 작동 절차로 일반적인 데이터 수집 실험(예: 온도 측정, 전압 판독, 신호 모니터링 등)을 쉽고 빠르게 구축할 수 있습니다.
  • 교육 및 학습의 효율성을 높입니다: 교사는 데이터 수집 과정을 보다 효율적으로 시연하고, 실험 프로젝트를 설계하고, 학생의 학습 결과를 평가할 수 있습니다.

(주요 기능)

DAQWare EDU 2024 주요 기능

  • 그래픽 작업 구성: 물리적 채널, 샘플 속도, 트리거 조건 및 기타 매개변수를 클릭하고 선택하여 쉽게 구성할 수 있습니다.
  • NI DAQmx와의 원활한 통합: 입증되고 신뢰할 수 있는 NI DAQmx 드라이버를 기반으로 하여 NI 데이터 수집 하드웨어와의 안정적인 호환성을 보장합니다.
  • 다중 유형 신호 수집: 일반적인 아날로그 입력(AI), 아날로그 출력(AO), 디지털 입력/출력(DIO) 및 카운터 작업을 지원합니다.
  • 실시간 데이터 시각화: 수집된 데이터를 실시간으로 관찰할 수 있는 파형 그래프, 디지털 대시보드 및 기타 디스플레이 컨트롤이 내장되어 있습니다.
  • 편리한 데이터 로깅: 수집된 데이터는 파일(예: txt 형식)에 쉽게 기록하여 MATLAB, Excel 등의 도구를 사용하여 후속 분석 및 처리를 할 수 있습니다.
  • 교육 친화적인 디자인: 인터페이스와 기능은 교육 시나리오에 최적화되어 있으며, 쉽게 이해하고 시작할 수 있습니다.
  • (선택 사항, 해당되는 경우) 풍부한 교육 예시: 일반적인 회로, 센서 애플리케이션을 위해 미리 구성된 예제 또는 템플릿이 포함될 수 있습니다.

(호환성 및 요구 사항)

시스템 요구 사항 및 하드웨어 호환성

  • 필수입니다: 내셔널 인스트루먼트 NI DAQmx 드라이버가 올바르게 설치되었습니다.
  • 하드웨어 지원: USB 시리즈(예: USB-600x), PCIe 시리즈, CompactDAQ(cDAQ) 및 기타 모듈형 또는 보드 기반 장치를 포함하되 이에 국한되지 않는 대부분의 NI 데이터 수집 하드웨어와 호환됩니다.
  • 운영 체제: 주요 Windows 운영 체제를 지원합니다(Windows 10/11 등 소프트웨어의 특정 요구 사항에 따라 기입하세요).

(대상 사용자)

서비스 사용자

  • 고등 교육 기관 및 직업 기술 대학의 교사 및 학생
  • 전자 정보 공학, 자동화, 측정 및 제어 기술 및 계측, 기계 공학, 물리학 및 기타 관련 학과 학생들
  • 기본 데이터 수집 실험을 가르치거나 배워야 하는 실험실 및 개인
  • NI DAQ 디바이스 사용을 간소화하려는 초보자

EDU 2024 에디션 정보

교육 부문을 위한 최신 버전인 DAQWare EDU 2024는 교육 및 학습의 요구 사항을 충족하는 안정적이고 사용하기 쉬운 데이터 수집 소프트웨어 환경을 제공하는 데 전념하고 있습니다.

(클릭 유도 문안)

오늘 데이터 수집 여정을 시작하세요!

NI USB-600x 데이터 수집 카드 분석하기

NI USB-6009다기능 데이터 수집 카드는 NI-B 시리즈 데이터 수집 카드에 속하며 B 시리즈는 NI 저렴한 시리즈에 속합니다. 아날로그 신호 입력 및 출력, 디지털 신호 입력 및 출력, 카운터 기능을 제공 할 수 있습니다. 동시에 NI USB-6009에는 USB-6008, USB-6000, USB-6001, USB-6002, USB-6003 모델 시리즈도 포함되어 있습니다.

Rainbead의 가상 계측기 "회로의 원리" 애플리케이션 가이드

Raindrop S"차이나 칩의 독립적으로 프로그래밍 가능한 칩"과 독립적으로 제어 가능한 오픈 소스 소프트웨어 프레임워크를 기반으로 하는 지능형 온칩 가상 기기 개발 플랫폼으로, 사용자가 다양한 혼합 신호를 편리하게 측정, 판독, 생성, 기록 및 제어할 수 있습니다. "구름을 비로 바꾼다"는 의미를 가진 "Yuzhu S"는 업계의 첨단 "기기 온 칩" 기술과 "클라우드 컴파일" 및 기타 클라우드 기반 기술을 "클라우드 컴파일" 형태로 시장에 제공하는 데 전념하고 있습니다. 우리는 업계의 첨단 "기기 온 칩" 기술과 "클라우드 컴파일" 및 기타 클라우드 기반 기술을 더 많은 엔지니어, 과학자, 교사 및 학생들에게 조용한 방식으로 제공하기 위해 최선을 다하고 있습니다.

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TLA-J 시리즈 실험 키트

적용 가능한 하드웨어: Jenyi Technology의 USB-101, USB-61902

소프트웨어: JY USB용 DAQWare

TLA-001J 회로 원리 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정

TLA-002J 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003J 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004J 센서 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험

TLA-005J 신호 및 시스템 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1제로 입력 응답 및 제로 상태 응답
2신호의 합성 및 분해
32차 직렬 공진 및 병렬 공진
41차 네트워크 특성 측정
52차 네트워크 특성 측정
6피드백 시스템 및 시스템 주파수 응답 특성
72 차 버터워스 필터 실험
8신호 샘플링 및 복구
9RC 발진기 특성

TLA-007J 자동 제어 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트JY USB101JY USB61902
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험
다운로드하려면 여기를 클릭하세요.JY USB-101용 DAQWare 1.0.3

TLA-R 시리즈 코스 실험 키트

TLA-R 시리즈 코스 실습 키트는 NI ELVIS III에 사용되며 실습 소프트웨어는 NI ELVIS III용 DAQWare를 사용합니다.

적용 가능한 하드웨어: NI ELVIS III

소프트웨어: ELVIS III용 DAQWare

TLA-001R 회로 원리 강좌 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정
*2차 실험실 키트 사용 필요

TLA-002R 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003R 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004R 센서 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험
16백금 저항 온도 측정 실험

TLA-005R 신호 및 시스템 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1제로 입력 응답 및 제로 상태 응답
2신호의 합성 및 분해
32차 직렬 공진 및 병렬 공진
41차 네트워크 특성 측정
52차 네트워크 특성 측정
6피드백 시스템 및 시스템 주파수 응답 특성
72 차 버터워스 필터 실험
8신호 샘플링 및 복구
9RC 발진기 특성

TLA-007I 자동 제어의 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS III
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험
12온도 측정 및 PID 제어 실험

TLA-U6 시리즈 코스 실험 키트

적용 가능한 하드웨어: NI USB-6001\ USB-6002\ USB-6003\ USB-6009

소프트웨어: NI DAQmx용 DAQWare

TLA-001U 회로 원리 강좌 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트USB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정
*2차 실험실 키트 사용 필요

TLA-002U 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트USB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003U 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트USB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004U 센서 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트USB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험
16백금 저항 온도 측정 실험*

TLA-007U 자동 제어의 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트USB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험
12온도 측정 및 PID 제어 실험

TLA-M 시리즈 코스 실험 키트

NI myDAQ/myRIO용 TLA-M 시리즈 코스 실습 키트, myDAQ용 DAQWare*를 사용하는 실습 소프트웨어 DAQmx용 NI DAQWare.

적용 가능한 하드웨어: NI myDAQ

소프트웨어: NI DAQmx용 DAQWare

TLA-001M 회로 원리 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트NI myDAQNI myRIO
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정
*2차 실험실 키트 사용 필요

TLA-002M 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트NI myDAQNI myRIO
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003M 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트NI myDAQNI myRIO
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004M 센서 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트myDAQmyRIO
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험
,

TLA-005M 신호 및 시스템 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트NI myDAQNI myRIO
1제로 입력 응답 및 제로 상태 응답
2신호의 합성 및 분해
32차 직렬 공진 및 병렬 공진
41차 네트워크 특성 측정
52차 네트워크 특성 측정
6피드백 시스템 및 시스템 주파수 응답 특성
72 차 버터워스 필터 실험
8신호 샘플링 및 복구
9RC 발진기 특성

TLA-007E 자동 제어의 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트NI myDAQNI myRIO
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험
12온도 측정 및 PID 제어 실험

TLA-D 시리즈 코스 실험 키트

적용 가능한 하드웨어: 디지로그 아날로그 디스커버리 스튜디오

소프트웨어: Digilent AD용 DAQWare

TLA-001D 회로 원리 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정

TLA-002D 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003D 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004D 센서 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험

TLA-005D 신호 및 시스템 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1제로 입력 응답 및 제로 상태 응답
2신호의 합성 및 분해
32차 직렬 공진 및 병렬 공진
41차 네트워크 특성 측정
52차 네트워크 특성 측정
6피드백 시스템 및 시스템 주파수 응답 특성
72 차 버터워스 필터 실험
8신호 샘플링 및 복구
9RC 발진기 특성

TLA-007D 자동 제어 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트디지런트 아날로그 디스커버리 스튜디오
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험

TLA-E 시리즈 코스 실험 키트

TLA-E 시리즈 코스 실습 키트는 NI ELVIS I/II/II+용이며, 실습 소프트웨어는 NI DAQmx용 DAQWare를 사용합니다.

적용 가능한 하드웨어: NI ELVIS I(기존), ELVIS II|ELVIS II+

소프트웨어: NI DAQmx용 DAQWare

TLA-001E 회로 원리 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1회로 구성 요소의 볼트-암페어 특성 매핑하기
2키르히호프의 법칙 검증
3중첩 원리 검증
4다비냥과 노턴의 정리 검증
5통제된 소스에 대한 실험적 연구 VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6RC 1차 회로의 응답 테스트
72차 동적 회로 응답에 대한 연구
8R, L, C의 직렬 공진 회로 연구
9RC 주파수 선택적 네트워크 특성화
10R, L, C 컴포넌트의 임피던스 특성 측정
*2차 실험실 키트 사용 필요

TLA-002E 아날로그 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1트랜지스터 단일 스테이지 증폭기 회로
2트랜지스터 2단 증폭기 회로
3트랜지스터 네거티브 피드백 증폭기 회로
4트랜지스터 이미터 팔로워
5트랜지스터 차동 증폭기 회로
6연산 증폭기 비례 합산 연산 회로
7적분 및 차동 회로
8파형 생성 회로
9활성 필터
10전압 비교기
11IC RC 사인파 발진기
12통합 전압 조정기 실험
13파형 변환기 회로
14전계 효과 트랜지스터 증폭기 회로

TLA-003E 디지털 회로 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1게이트 로직 기능 및 테스트
2조합 논리 회로 Ⅰ(하프 가산기, 풀 가산기)
3조합 회로 II(디코더 및 데이터 선택기)
4플립플롭(전자)
5타이밍 회로(카운터, 시프트 레지스터)
6조합 논리 회로의 설계 및 논리 기능 검증
7D/A, A/D 컨버터
8555 타임베이스 회로 적용
9집적 회로 다중 카운터 결합 애플리케이션

TLA-004E 센서 코스 실습 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1포토레지스터 특성 실험
2실리콘 광전지 특성화 실험
3광 다이오드 특성 실험
4광 트랜지스터 특성 실험
5핀 다이오드 특성 실험*
6열전 적외선 센서의 특성에 대한 실험
7슬롯 옵토커플러 기반 DC 모터 속도 측정 실험
8홀 IC 기반 DC 모터 속도 측정 및 속도 제어 실험
9서미스터 온도 측정 실험
10LM35 온도 측정 실험
11열전대 온도 측정 실험
12상대 습도 측정 실험
13AD592 온도 측정 실험
14금속 호일 스트레인 게이지의 특성 실험
15일렉트릿 마이크 오디오 측정 실험
16백금 저항 온도 측정 실험

TLA-005E 신호 및 시스템 코스 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1제로 입력 응답 및 제로 상태 응답
2신호의 합성 및 분해
32차 직렬 공진 및 병렬 공진
41차 네트워크 특성 측정
52차 네트워크 특성 측정
6피드백 시스템 및 시스템 주파수 응답 특성
72 차 버터워스 필터 실험
8신호 샘플링 및 복구
9RC 발진기 특성

TLA-007E 자동 제어의 원리 과정 실험 키트

일련 번호실험 프로젝트ELVIS IELVIS IIELVIS II+
1일반적인 링크 회로 시뮬레이션 실험
2일반적인 시스템의 동적 성능 및 안정성 분석
3일반적인 링크 주파수 특성 측정
4선형 시스템 직렬 보정
5일반적인 비선형 링크의 정적 특성
6비선형 시스템 분석을 위한 위상 평면 방법
7비선형 시스템의 기능 설명
8제어 시스템 폴의 임의 구성
9샘플링 시스템 분석
10아날로그 PID 제어 실험
11DC 모터 속도 측정 및 PID 제어 실험
12온도 측정 및 PID 제어 실험
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