DAQWare for NI DAQmx エデュケーション・エディション EDU 2024

明日のエンジニアに力を与える:NI DAQmxデータ収集を簡素化するティーチングツール

TLAは、DAQWare for NI DAQmx Education Edition EDU 2024のリリースを発表します!この教育用ソフトウェアツールは、National Instruments (NI) DAQmxドライバをベースとしたデータ収集プロセスを簡素化するように設計されており、学生や教師が理論的な知識を実践的に実践することを容易にします。DAQWare EDU 2024は、データ収集の概念を初めて学ぶ学生にも、効果的な教育ツールを探している教育者にも、直感的で使いやすいソリューションを提供します。

(コアバリュー/選ぶ理由 - なぜDAQWare For NI DAQmx EDUを選ぶのか?)

DAQWare EDU 2024を選ぶ理由

DAQWare EDU 2024は、データ収集の中核となる概念を素早く理解することが重要な教育環境において、学習プロセスを簡素化します:

  • 複雑なプログラミングは必要ない: 直感的なグラフィカル・ユーザー・インターフェース(GUI)により、学生は複雑なコードを書くことなく、データ収集タスクを設定し、実行することができます。
  • 核となる概念に焦点を当てる: 基礎となるドライバーの複雑さを遮蔽することで、生徒たちは信号、センサー、データ変換、分析の核となる原理を理解することに集中できる。
  • クイックビルドの実験: プリセットされた設定オプションとクリーンな操作手順により、一般的なデータ収集実験(温度測定、電圧読み取り、信号モニタリングなど)を簡単かつ迅速に構築できます。
  • 教育と学習の効果を高める: 教師は、データ収集プロセスをより効率的に示し、実験プロジェクトを設計し、生徒の学習成果を評価することができる。

(主な特徴)

DAQWare EDU 2024の主な機能

  • グラフィカルなタスク設定: 物理チャンネル、サンプル・レート、トリガー条件、その他のパラメーターは、クリックして選択することで簡単に設定できます。
  • NI DAQmxとのシームレスな統合: 実績と信頼性のあるNI DAQmxドライバをベースとしており、NIデータ収集ハードウェアとの安定した互換性を保証します。
  • マルチタイプの信号収集: 一般的なアナログ入力(AI)、アナログ出力(AO)、デジタル入出力(DIO)、カウンター・タスクをサポート。
  • リアルタイムのデータ可視化: 波形グラフ、デジタルダッシュボード、その他の表示コントロールを内蔵し、収集したデータをリアルタイムで観察できます。
  • 便利なデータロギング: 収集したデータは簡単にファイル(txt形式など)に記録することができ、MATLABやExcelなどのツールを使ったその後の分析や処理に便利です。
  • 教育向きのデザイン: インターフェースと機能は教育シナリオに最適化されており、理解しやすく、使い始めやすい。
  • (該当する場合は任意)豊富な指導例: 典型的な回路やセンサー・アプリケーション用に、あらかじめ設定された例やテンプレートが含まれている場合があります。

(互換性と要件)

システム要件とハードウェアの互換性

  • 必要だ: National Instruments NI DAQmx ドライバが正しくインストールされました。
  • ハードウェアのサポート: USB シリーズ(USB-600x など)、PCIe シリーズ、CompactDAQ(cDAQ)、その他のモジュール型またはボード型デバイスなど、NI DAQmx ドライバをサポートするほとんどの NI データ収集ハードウェアと互換性があります。
  • オペレーティングシステム: 主流のWindowsオペレーティングシステムをサポート(Windows 10/11など、ソフトウェアの特定の要件に応じて記入してください)。

(ターゲットユーザー)

サービス利用者

  • 高等教育機関および専門学校の教員と学生
  • 電子情報工学、オートメーション、計測制御技術、計装、機械工学、物理学、その他関連分野の学生
  • 基礎的なデータ収集実験を教える、あるいは学ぶ必要のある研究室や個人
  • NI DAQデバイスの使用を簡素化したい初心者

EDU2024版について

DAQWare EDU 2024は、教育分野向けの最新リリースで、教育や学習のニーズを満たす、安定した使いやすいデータ収集ソフトウェア体験を提供することに専念しています。

(行動への呼びかけ)

データ収集の旅を今すぐ始めましょう!

NI USB-600xデータ収集カードの分析

NI USB-6009多機能のデータ収集カードは NI-B シリーズ データ収集カード、B シリーズにです NI の安いシリーズ属します。それはアナログ信号の入出力、デジタル信号の入出力およびカウンター機能を提供できます。同時に、NI USB-6009はまた一連のモデルUSB-6008、USB-6000、USB-6001、USB-6002、USB-6003を含んでいる。

レインビードのバーチャル・インストゥルメンツ "回路の原理 "アプリケーションガイド

レインドロップSこれは、「中国チップの独立プログラマブルチップ」と独立制御可能なオープンソースソフトウェアフレームワークに基づくインテリジェントなオンチップ仮想計測器開発プラットフォームであり、ユーザーは様々な混合信号を便利に測定、読み取り、生成、記録、制御することができます。雲を雨に変える」という意味を持つ「Yuzhu S」は、業界の先進的な「Instrument on Chip」技術と「クラウドコンパイル」という形で、その他のクラウドベースの技術を市場に提供することに専念しています。私たちは、業界の先進的な「インスツルメント・オン・チップ」技術と「クラウド・コンパイル」などのクラウドベースの技術を、より多くのエンジニア、科学者、教師、学生たちに静かに届けることを約束します。

Raindrop Sは、普通のブリーフケース/ブックバッグの重さに簡単に収まるほど小型ですが、多くの実験装置を置き換えるのに十分強力です。研究室でも、研究室の外でも、どのような環境でも、Raindrop YuZhu|レインドロップ|Sは、エンジニア、科学者、工学部の学生や教師、趣味や電子工学の愛好家に、アナログ+デジタルI / O、ハードウェア・イノベーション・プロジェクトに基づくカスタム・テストと測定を、思いのままに実行できる "ポータブル・バーチャル・インスツルメンツ・オン・チップ・ラボ "を提供することができます!「ポータブルなオンチップ・バーチャル計測ラボです。

TLA-Jシリーズ実験キット

適用ハードウェア:Jenyi Technology社のUSB-101、USB-61902

ソフトウェア: DAQWare for JY USB

TLA-001J 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定

TLA-002J アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003J デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004J センサーコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験

TLA-005J 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007J 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトJY USB101JY USB61902
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
ダウンロードはこちらDAQWare for JY USB-101 1.0.3

TLA-Rシリーズ実験キット

NI ELVIS IIIにはTLA-Rシリーズのコースラボキットを使用し、ラボソフトウェアにはDAQWare for NI ELVIS IIIを使用しています。

対応ハードウェア:NI ELVIS III

ソフトウェア: DAQWare for ELVIS III

TLA-001R 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定
*第2実験キットの使用が必要

TLA-002R アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003R デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004R センサーコースラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験
16白金抵抗温度測定実験

TLA-005R 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007I 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
12温度測定とPID制御実験

TLA-U6シリーズコース実験キット

適用ハードウェア:NI USB-6001 USB-6002 USB-6003 USB-6009

ソフトウェア: DAQWare for NI DAQmx

TLA-001U 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定
*第2実験キットの使用が必要

TLA-002U アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003U デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004U センサーコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験
16白金抵抗温度測定実験

TLA-007U 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトUSB-6001USB-6002USB-6003USB6009
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
12温度測定とPID制御実験

TLA-Mシリーズコース実験キット

NI myDAQ/myRIO用TLA-Mコースラボキット、DAQWare for NI DAQmx* for myDAQを使用したラボソフトウェア。

対応ハードウェア:NI myDAQ

ソフトウェア: DAQWare for NI DAQmx

TLA-001M 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトNI myDAQNIマイリオ
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定
*第2実験キットの使用が必要

TLA-002M アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトNI マイダックNI マイリオ
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003M デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトNI マイダックNI マイリオ
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004M センサーコースラボキット

シリアル番号実験プロジェクトマイダックマイリオ
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験
そして

TLA-005M 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトNI myDAQNI マイリオ
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007E 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトNI マイダックNI マイリオ
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
12温度測定とPID制御実験

TLA-Dシリーズコース実験キット

対応ハードウェア:Digilent Analog Discovery Studio

ソフトウェア: DAQWare for Digilent AD

TLA-001D 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定

TLA-002D アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003D デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004D センサーコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験

TLA-005D 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007D 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトデジレント・アナログ・ディスカバリー・スタジオ
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験

TLA-Eシリーズコース実験キット

TLA-EシリーズのラボキットはNI ELVIS I/II/II+用で、ラボソフトウェアはDAQWare for NI DAQmxを使用しています。

対応ハードウェア:NI ELVIS I (Traditional), ELVIS II|ELVIS II+

ソフトウェア: DAQWare for NI DAQmx

TLA-001E 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定
*第2実験キットの使用が必要

TLA-002E アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003E デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004E センサーコースラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験
16白金抵抗温度測定実験

TLA-005E 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007E 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビスIエルビスIIエルビス II+
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
12温度測定とPID制御実験
ja日本語