TLA-Rシリーズ実験キット

NI ELVIS IIIにはTLA-Rシリーズのコースラボキットを使用し、ラボソフトウェアにはDAQWare for NI ELVIS IIIを使用しています。

対応ハードウェア:NI ELVIS III

ソフトウェア: DAQWare for ELVIS III

TLA-001R 回路原理コース ラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1回路部品のボルト・アンペア特性のマッピング
2キルヒホッフの法則の検証
3重ね合わせの原理の検証
4ダヴィニャンの定理とノートンの定理の検証
5制御電源VCVS、VCCS、CCVS、CCCS*の実験的研究
6RC一次回路の応答試験
7二次動的回路応答に関する研究
8R、L、Cの直列共振回路の研究
9RC周波数選択ネットワークの特性評価
10R、L、C成分のインピーダンス特性の測定
*第2実験キットの使用が必要

TLA-002R アナログ回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1トランジスタ単段増幅回路
2トランジスタ2段増幅回路
3トランジスタ負帰還増幅回路
4トランジスタ・エミッタ・フォロワ
5トランジスタ差動増幅回路
6オペアンプ比例和演算回路
7積分回路と微分回路
8波形発生回路
9アクティブフィルター
10電圧コンパレータ
11IC RC正弦波発振器
12統合電圧レギュレータの実験
13波形変換回路
14電界効果トランジスタ増幅回路

TLA-003R デジタル回路コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1ゲート・ロジックの機能とテスト
2組合せ論理回路Ⅰ(半加算器、全加算器)
3組み合わせ回路II(デコーダーとデータセレクター)
4フリップフロップ
5タイミング回路(カウンタ、シフトレジスタ)
6組合せ論理回路の設計と論理機能検証
7D/A、A/Dコンバータ
8555タイムベース回路の応用
9集積回路 複数カウンタ複合アプリケーション

TLA-004R センサーコースラボキット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1フォトレジスター特性実験
2シリコン太陽電池の特性評価実験
3フォトダイオード特性評価実験
4フォトトランジスタ特性実験
5PINダイオードの特性評価実験
6焦電型赤外線センサーの特性実験
7スロットオプトカプラを用いたDCモータ速度計測実験
8ホールICを用いたDCモータの速度計測と速度制御実験
9サーミスタ温度測定実験
10LM35温度測定実験
11熱電対温度測定実験
12相対湿度測定実験
13AD592温度測定実験
14金属箔ひずみゲージの特性に関する実験
15エレクトレットマイクロホン音声測定実験
16白金抵抗温度測定実験

TLA-005R 信号・システムコース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1ゼロ入力応答とゼロ状態応答
2信号の合成と分解
32次直列共振と並列共振
4一次ネットワーク特性測定
52次ネットワーク特性測定
6フィードバックシステムとシステム周波数応答特性
72次バターワース・フィルターの実験
8信号のサンプリングとリカバリー
9RC発振器の特性

TLA-007I 自動制御原理コース実験キット

シリアル番号実験プロジェクトエルビス3世
1典型的なリンク回路シミュレーション実験
2典型的なシステムの動的性能と安定性解析
3代表的なリンク周波数特性測定
4リニアシステム直列補正
5典型的な非線形リンクの静的特性
6非線形システム解析のための位相平面法
7非線形システムの関数記述
8制御システムの極の任意構成
9サンプリングシステム分析
10アナログPID制御実験
11DCモーター速度測定とPID制御実験
12温度測定とPID制御実験
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