DAQWare für NI DAQmx Education Edition EDU 2024

Stärkung der Ingenieure von morgen: Unterrichtswerkzeuge zur Vereinfachung der Datenerfassung mit NI DAQmx

TLA freut sich, die Veröffentlichung von DAQWare for NI DAQmx Education Edition EDU 2024 bekannt zu geben! Dieses Softwaretool für den Bildungsbereich wurde entwickelt, um den Datenerfassungsprozess auf der Grundlage des DAQmx-Treibers von National Instruments (NI) zu vereinfachen und es Studenten und Lehrkräften zu erleichtern, ihr theoretisches Wissen in der Praxis anzuwenden. Egal, ob Sie ein Student sind, der mit den Konzepten der Datenerfassung noch nicht vertraut ist, oder ein Ausbilder, der nach einem effektiven Lehrmittel sucht, DAQWare EDU 2024 bietet eine intuitive, einfach zu bedienende Lösung.

(Grundwerte/Warum wählen - Warum DAQWare für NI DAQmx EDU wählen?)

Warum sollten Sie sich für DAQWare EDU 2024 entscheiden?

In einer Lehrumgebung, in der es für Studenten entscheidend ist, die Kernkonzepte der Datenerfassung schnell zu erfassen, vereinfacht die DAQWare EDU 2024 den Lernprozess durch..:

  • Es ist keine komplexe Programmierung erforderlich: Mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) können die Studierenden Datenerfassungsaufgaben konfigurieren und durchführen, ohne komplexen Code schreiben zu müssen.
  • Konzentration auf Kernkonzepte: Dadurch, dass die Komplexität der zugrundeliegenden Treiber ausgeblendet wird, können sich die Studierenden besser auf das Verständnis der Kernprinzipien von Signalen, Sensoren, Datenumwandlung und -analyse konzentrieren.
  • Schnelle Bauexperimente: Voreingestellte Konfigurationsoptionen und ein übersichtliches Bedienkonzept machen den Aufbau gängiger Datenerfassungsexperimente (z. B. Temperaturmessung, Spannungsmessung, Signalüberwachung usw.) einfach und schnell.
  • Verbesserung der Wirksamkeit des Lehrens und Lernens: Die Lehrkräfte können den Prozess der Datenerfassung effizienter demonstrieren, experimentelle Projekte entwerfen und die Lernergebnisse der Schüler bewerten.

(Hauptmerkmale)

DAQWare EDU 2024 Hauptmerkmale

  • Grafische Aufgabenkonfiguration: Physikalische Kanäle, Abtastraten, Triggerbedingungen und andere Parameter können durch Anklicken und Auswählen einfach konfiguriert werden.
  • Nahtlose Integration mit NI DAQmx: Basiert auf dem bewährten und zuverlässigen NI DAQmx-Treiber, der eine stabile Kompatibilität mit NI-Datenerfassungshardware gewährleistet.
  • Multi-Typ-Signalerfassung: Unterstützt gängige Analogeingänge (AI), Analogausgänge (AO), Digitaleingänge/-ausgänge (DIO) und Zähler.
  • Visualisierung von Daten in Echtzeit: Integrierte Wellenformdiagramme, digitale Dashboards und andere Anzeigeelemente zur Beobachtung der erfassten Daten in Echtzeit.
  • Bequeme Datenaufzeichnung: Die gesammelten Daten können einfach in einer Datei (z. B. im txt-Format) aufgezeichnet werden, was für die anschließende Analyse und Verarbeitung mit Tools wie MATLAB, Excel usw. praktisch ist.
  • Bildungsfreundliches Design: Die Benutzeroberfläche und die Funktionen sind für Bildungsszenarien optimiert und leicht zu verstehen.
  • (fakultativ, falls zutreffend) Reichhaltige Unterrichtsbeispiele: Kann vorkonfigurierte Beispiele oder Vorlagen für typische Schaltungen und Sensoranwendungen enthalten.

(Kompatibilität und Anforderungen)

Systemanforderungen und Hardware-Kompatibilität

  • Erforderlich: Der National Instruments NI DAQmx-Treiber wurde ordnungsgemäß installiert.
  • Hardware-Unterstützung: Kompatibel mit den meisten NI-Datenerfassungsgeräten, die den NI-DAQmx-Treiber unterstützen, u. a. mit der USB-Serie (z. B. USB-600x), der PCIe-Serie, CompactDAQ (cDAQ) und anderen modularen oder kartenbasierten Geräten.
  • Betriebssystem: Unterstützung gängiger Windows-Betriebssysteme (bitte entsprechend den spezifischen Anforderungen der Software ausfüllen, z. B. Windows 10/11).

(Zielbenutzer)

Dienstleistungsnutzer

  • Lehrkräfte und Studierende von Hochschulen und Berufs- und Fachschulen
  • Studierende der Informationselektronik, der Automatisierungs-, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik, des Maschinenbaus, der Physik und anderer verwandter Fachrichtungen
  • Laboratorien und Einzelpersonen, die grundlegende Experimente zur Datenerfassung lehren oder daraus lernen müssen
  • Einsteiger, die den Einsatz von NI-DAQ-Geräten vereinfachen möchten

Über die Ausgabe EDU 2024

DAQWare EDU 2024 ist unser neuestes Release für den Bildungssektor, das eine stabile, einfach zu bedienende Datenerfassungssoftware bietet, die den Anforderungen des Lehrens und Lernens gerecht wird.

(Aufruf zum Handeln)

Beginnen Sie Ihre Datenerfassung noch heute!

Analysieren der NI USB-600x-Datenerfassungskarte

NI USB-6009Die Multifunktions-Datenerfassungskarte gehört zur NI-B-Serie der Datenerfassungskarten, die B-Serie gehört zur preiswerten NI-Serie. Sie kann analoge Signalein- und -ausgänge, digitale Signalein- und -ausgänge sowie Zählerfunktionen bereitstellen. Zur gleichen Zeit, NI USB-6009 umfasst auch eine Reihe von Modellen USB-6008, USB-6000, USB-6001, USB-6002, USB-6003.

Rainbead s Virtual Instruments "Principles of Circuits" Anwendungshandbuch

Regentropfen SEs handelt sich um eine intelligente Entwicklungsplattform für virtuelle On-Chip-Instrumente, die auf dem unabhängig programmierbaren Chip von China Chip" und einem unabhängig steuerbaren Open-Source-Software-Framework basiert und es den Benutzern ermöglicht, eine Vielzahl von gemischten Signalen bequem zu messen, zu lesen, zu erzeugen, aufzuzeichnen und zu steuern. Yuzhu S" hat es sich zur Aufgabe gemacht, die fortschrittliche "Instrument-on-Chip"-Technologie und die "Cloud Compilation" sowie andere Cloud-basierte Technologien auf den Markt zu bringen, um Wolken in Regen zu verwandeln. Wir verpflichten uns, die fortschrittliche "Instrument-on-Chip"-Technologie und die "Cloud Compilation" sowie andere Cloud-basierte Technologien auf geräuschlose Weise an mehr Ingenieure, Wissenschaftler, Lehrer und Studenten zu liefern.

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Experimentierkästen der TLA-J-Serie

Anwendbare Hardware: USB-101, USB-61902 von Jenyi Technology

Software: DAQWare für JY USB

TLA-001J Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten

TLA-002J Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003J Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004J Sensor-Kurs-Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen

TLA-005J Experimentierkasten für Signal- und Systemkurse

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Null-Eingangsreaktion und Null-Zustandsreaktion
2Synthese und Dekomposition von Signalen
3Serienresonanz zweiter Ordnung und Parallelresonanz
4Messungen der Netzcharakteristik erster Ordnung
5Messungen der Netzcharakteristik zweiter Ordnung
6Rückkopplungssysteme und Frequenzgang des Systems
7Experiment zum Butterworth-Filter zweiter Ordnung
8Signalabtastung und -wiederherstellung
9Merkmale des RC-Oszillators

TLA-007J Experimentierkasten zum Prinzip der automatischen Steuerung

SeriennummerExperimentelle ProjekteJY USB101JY USB61902
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch
Klicken Sie hier zum HerunterladenDAQWare für JY USB-101 1.0.3

TLA-R-Serie Kurs-Experimentierkasten

Die Kurs-Laborkits der TLA-R-Serie werden für NI ELVIS III verwendet und die Laborsoftware verwendet DAQWare für NI ELVIS III.

Anwendbare Hardware: NI ELVIS III

Software: DAQWare für ELVIS III

TLA-001R Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten
*Erfordert die Verwendung eines 2. Laborkits

TLA-002R Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003R Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004R Sensorkurs-Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen
16Experiment zur Messung der Platinwiderstandstemperatur

TLA-005R Experimentierkasten für Signal- und Systemkurse

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Null-Eingangsreaktion und Null-Zustandsreaktion
2Synthese und Dekomposition von Signalen
3Serienresonanz zweiter Ordnung und Parallelresonanz
4Messungen der Netzcharakteristik erster Ordnung
5Messungen der Netzcharakteristik zweiter Ordnung
6Rückkopplungssysteme und Frequenzgang des Systems
7Experiment zum Butterworth-Filter zweiter Ordnung
8Signalabtastung und -wiederherstellung
9Merkmale des RC-Oszillators

TLA-007I Grundlagen der automatischen Steuerung Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS III
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch
12Temperaturmessung und PID-Regelungsversuch

TLA-U6-Serie Kurs-Experimentierkasten

Anwendbare Hardware: NI USB-6001\ USB-6002\ USB-6003\ USB-6009

Software: DAQWare für NI DAQmx

TLA-001U Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten
*Erfordert die Verwendung eines 2. Laborkits

TLA-002U Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003U Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004U Sensor-Kurs-Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen
16Experiment zur Messung der Platinwiderstandstemperatur*

TLA-007U Experimentierkasten zum Prinzip der automatischen Steuerung

SeriennummerExperimentelle ProjekteUSB-6001USB-6002USB-6003USB-6009
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch
12Temperaturmessung und PID-Regelungsversuch

Kurs-Experimentierkasten der TLA-M-Serie

Kurs-Laborkit der TLA-M-Serie für NI myDAQ/myRIO, Laborsoftware mit DAQWare für NI DAQmx* für myDAQ.

Anwendbare Hardware: NI myDAQ

Software: DAQWare für NI DAQmx

TLA-001M Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteNI myDAQNI myRIO
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten
*Erfordert die Verwendung eines 2. Laborkits

TLA-002M Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteNI myDAQNI myRIO
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003M Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteNI myDAQNI myRIO
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004M Sensorkurs-Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjektemyDAQmyRIO
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen
,

TLA-005M Experimentierkasten für Signal- und Systemkurse

SeriennummerExperimentelle ProjekteNI myDAQNI myRIO
1Null-Eingangsreaktion und Null-Zustandsreaktion
2Synthese und Dekomposition von Signalen
3Serienresonanz zweiter Ordnung und Parallelresonanz
4Messungen der Netzcharakteristik erster Ordnung
5Messungen der Netzcharakteristik zweiter Ordnung
6Rückkopplungssysteme und Frequenzgang des Systems
7Experiment zum Butterworth-Filter zweiter Ordnung
8Signalabtastung und -wiederherstellung
9Merkmale des RC-Oszillators

TLA-007E Grundlagen der automatischen Steuerung - Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteNI myDAQNI myRIO
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch
12Temperaturmessung und PID-Regelungsversuch

Kurs-Experimentierkasten der TLA-D-Serie

Anwendbare Hardware: Digilent Analog Discovery Studio

Software: DAQWare für Digilent AD

TLA-001D Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten

TLA-002D Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003D Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004D Sensor-Kurs-Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen

TLA-005D Experimentierkasten für Signal- und Systemkurse

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Null-Eingangsreaktion und Null-Zustandsreaktion
2Synthese und Dekomposition von Signalen
3Serienresonanz zweiter Ordnung und Parallelresonanz
4Messungen der Netzcharakteristik erster Ordnung
5Messungen der Netzcharakteristik zweiter Ordnung
6Rückkopplungssysteme und Frequenzgang des Systems
7Experiment zum Butterworth-Filter zweiter Ordnung
8Signalabtastung und -wiederherstellung
9Merkmale des RC-Oszillators

TLA-007D Experimentierkasten für den Kurs "Grundlagen der automatischen Steuerung

SeriennummerExperimentelle ProjekteDigilent Analog Discovery Studio
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch

Kurs-Experimentierkasten der TLA-E-Serie

Die Kurs-Laborkits der TLA-E-Serie sind für NI ELVIS I/II/II+, und die Laborsoftware verwendet DAQWare für NI DAQmx.

Anwendbare Hardware: NI ELVIS I (traditionell), ELVIS II|ELVIS II+

Software: DAQWare für NI DAQmx

TLA-001E Schaltkreisprinzipien Kurs Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Abbildung der Volt-Ampere-Eigenschaften von Schaltkreiskomponenten
2Überprüfung des Kirchhoffschen Gesetzes
3Überprüfung des Überlagerungsprinzips
4Überprüfung der Theoreme von Davignan und Norton
5Experimentelle Studie über kontrollierte Quellen VCVS, VCCS, CCVS, CCCS*
6Prüfung des Ansprechverhaltens von RC-Schaltungen erster Ordnung
7Eine Studie über das dynamische Verhalten von Schaltkreisen zweiter Ordnung
8Untersuchung der Serienschwingkreise von R, L und C
9Charakterisierung von frequenzselektiven RC-Netzwerken
10Messung der Impedanzcharakteristik von R-, L- und C-Komponenten
*Erfordert die Verwendung eines 2. Laborkits

TLA-002E Experimentierkasten für analoge Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Einstufige Transistor-Verstärkerschaltung
2Zweistufige Transistor-Verstärkerschaltung
3Transistor-Verstärkerschaltung mit negativer Rückkopplung
4Transistor-Emitterfolger
5Transistor-Differentialverstärker-Schaltung
6Operationsverstärker Proportionale Summier-Operationsschaltung
7Integral- und Differentialschaltungen
8Schaltung zur Erzeugung von Wellenformen
9aktiver Filter
10Spannungskomparator
11IC RC-Sinuswellen-Oszillator
12Experiment zum integrierten Spannungsregler
13Wellenformwandlerschaltung
14Feldeffekttransistor-Verstärkerschaltung

TLA-003E Experimentierkasten für digitale Schaltkreise

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Gatterlogikfunktionen und Tests
2Kombinatorische logische Schaltungen Ⅰ (Halbaddierer, Volladdierer)
3Kombinationsschaltung II (Decoder und Datenwähler)
4flip-flop (Elektronik)
5Zeitschaltungen (Zähler, Schieberegister)
6Entwurf und logische Funktionsprüfung von kombinatorischen Logikschaltungen
7D/A, A/D-Wandler
8Anwendung der 555-Zeitbasisschaltung
9Integrierte Schaltungen Mehrfachzähler Kombinierte Anwendung

TLA-004E Sensorkurs-Laborkit

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Experiment zu den Eigenschaften von Fotowiderständen
2Experiment zur Charakterisierung von Silizium-Photovoltaikzellen
3Experiment zur Charakterisierung von Photodioden
4Experiment zu den Eigenschaften von Fototransistoren
5Experiment zur Charakterisierung von PIN-Dioden*
6Experimente zu den Eigenschaften von pyroelektrischen Infrarotsensoren
7Experiment zur Messung der Drehzahl eines Gleichstrommotors mit einem Schlitz-Optokoppler
8Hall-IC-basierte DC-Motor-Drehzahlmessung und Experiment zur Drehzahlregelung
9Experiment zur Messung der Thermistortemperatur
10Experiment zur Temperaturmessung mit dem LM35
11Experiment zur Temperaturmessung mit einem Thermoelement
12Experiment zur Messung der relativen Luftfeuchtigkeit
13AD592 Temperaturmessversuch
14Experimente zu den Eigenschaften von Metallfolien-Dehnungsmessstreifen
15Experiment zur Audiomessung mit Elektretmikrofonen
16Experiment zur Messung der Platinwiderstandstemperatur

TLA-005E Experimentierkasten für Signal- und Systemkurse

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Null-Eingangsreaktion und Null-Zustandsreaktion
2Synthese und Dekomposition von Signalen
3Serienresonanz zweiter Ordnung und Parallelresonanz
4Messungen der Netzcharakteristik erster Ordnung
5Messungen der Netzcharakteristik zweiter Ordnung
6Rückkopplungssysteme und Frequenzgang des Systems
7Experiment zum Butterworth-Filter zweiter Ordnung
8Signalabtastung und -wiederherstellung
9Merkmale des RC-Oszillators

TLA-007E Grundlagen der automatischen Steuerung - Experimentierkasten

SeriennummerExperimentelle ProjekteELVIS IELVIS IIELVIS II+
1Experiment zur Simulation einer typischen Verbindungsschaltung
2Dynamische Leistungs- und Stabilitätsanalyse von typischen Systemen
3Typische Messungen der Verbindungsfrequenzen
4Lineare Systemreihenkorrektur
5Statische Merkmale einer typischen nichtlinearen Verbindung
6Phasenebenenmethode zur Analyse nichtlinearer Systeme
7Funktionale Beschreibung von nichtlinearen Systemen
8Beliebige Konfiguration der Pole des Steuersystems
9Analyse des Probenahmesystems
10Versuch einer analogen PID-Regelung
11Gleichstrommotor-Drehzahlmessung und PID-Regelungsversuch
12Temperaturmessung und PID-Regelungsversuch
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